发射高分辨透射电镜场
- 仪器分类：分析仪器
- 仪器型号：JEOL F200
- 英文名称：Transmission electron microsco
- 所属单位：三峡大学
- 制造厂商：日本电子株式会社
- 原值金额：100万
联 系 人：李锋
联系电话：0717-6363725
服务领域
- 化学、生命科学、物理学、材料科学、医疗、半导体、纳米技术领域。
主要功能
- 精炼的全新设计：在提高机械和电气稳定性的同时，对电镜整体进行了精炼全新设计。
四级聚光镜设计：为了最大程度发挥出STEM功能，JEM-F200进行了全新概念的四级聚光镜设计，亮度和汇聚角可以分别控制。
高端扫描系统：在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能（选购件），可以获得大范围的STEM-EELS。
皮米样品台控制：标配的压电陶瓷控制样品台，可以在原子尺度上获得精准的移动。
全自动装样测角台（SPECPORTER）：样品杆的插入拔出只需电钮即可全自动实现，彰显其便利性及安全性。
成熟的冷场发射技术：可获得更好的高分辨观察、更高效的成分分析和更好的化学结合状态分析。
双超级能谱设计：可安装双超级能谱，将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度。
节能减排：启用省电模式耗电量降低80%。
主要技术指标
- 1. 合轴电压：200/80kV; 2. 分辨率：STEM: 0.14nm@200kV, 0.31nm@80kV, TEM: 0.10nm@200kV，0.14nm@80kV; 3. 双能谱仪探测器总面积：200mm2, EDS能量分辨率≤133eV(Mn-Ka);
对外共享规定
用户须知
