X射线粉末衍射仪
- 仪器分类：分析仪器
- 仪器型号：Rigaku SmartLab
- 英文名称：X-ray powder diffractometer Ri
- 所属单位：三峡大学
- 制造厂商：日本理学
- 原值金额：100万
联 系 人：李锋
联系电话：0717-6363725
服务领域
- 应用于普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品的物相鉴定，晶体结构分析
主要功能
- 物相定性分析：适用于各种无机材料、金属材料、有机材料、复合材料、粉末和液体的物相定性分析。
定量、半定量分析：可以进行晶体物质的定量、半定量分析。
结晶度分析：能够进行结晶度分析。
中低温样品测试：支持中低温样品测试，温度范围为-190°C至600°C，可在真空、空气、氮气或惰性气体环境中进行。
高温样品测试：可进行高温样品测试，温度范围为室温至1300℃，气氛可为真空、空气或惰性气体。
微区衍射分析：具备微区衍射分析功能，适用于微区微量样品的分析。
薄膜样品分析：包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度等分析。
小角散射与纳米材料粒径分布：可以进行小角散射测试，分析纳米材料的粒径分布。
In-Plane装置测量：可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构。
主要技术指标
- X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶
测角仪为水平测角仪
测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）
测角仪配程序式可变狭缝 • 自动识别所有光学组件、样品台
CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）
小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)
多用途薄膜测试组件
微区测试组件
n-Plane测试组件
入射端Ka1光学组件
对外共享规定
- 常规 XRD：80 元/样（10 分钟内）；慢扫XRD 加收：5 元/分钟
用户须知
