电子探针显微分析仪
- 仪器分类：分析仪器
- 仪器型号：JEOL JXA-iHP200F
- 英文名称：Electron probe microanalyzer J
- 所属单位：三峡大学
- 制造厂商：日本电子
- 原值金额：580万
联 系 人：李锋
联系电话：0717-6363725
服务领域
主要功能
- JXA-iHP200F型场发射电子探针显微分析仪，主要用于矿物材料的微区定量元素分析，同时可满足衍射、散射、反射和CT影像X射线分析平台。本实验配备了衍射和小角散射装置，可以实现对样品的物相分析和纳米颗粒的粒径分布分析等，主要用于地质、环境、材料、矿物加工等专业领域。
主要技术指标
- 分析元素范围：WDS：5B（4Be*）~92U；EDS：4Be~92U。
X射线范围：波长范围WDS：0.087~9.3nm；能量范围EDS：20keV。
谱仪数：WDS：4个（最多5个）；EDS：1个。
加速电压：1~30KV（0.1KVsteps）。
二次电子像分辨率（观察模式）：2.5nm。
二次电子像分辨率（分析模式）：20nm（10kV，10nA）；50nm（10kV，100nA）。
对外共享规定
用户须知
